モノクロメーター: Cu K-alpha edge / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54178 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→50 Å / Num. obs: 36807 / % possible obs: 97.8 %
反射 シェル
解像度: 1.9→1.93 Å / % possible all: 80.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
PHENIX
モデル構築
REFMAC
5.7.0029
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.9→26.93 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.964 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.954 / SU B: 1.854 / SU ML: 0.057 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.113 / ESU R Free: 0.1 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.16254
1841
5 %
RANDOM
Rwork
0.14099
-
-
-
obs
0.14209
34963
97.75 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK