ソフトウェア 名称 バージョン 分類 SBC-Collectデータ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.7.0029精密化 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 436D解像度 : 1.02→14.88 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.979 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.974 / SU B : 0.99 / SU ML : 0.023 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.029 / ESU R Free : 0.03 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.18189 1700 5 % RANDOM Rwork 0.15947 - - - obs 0.16064 32113 95.04 % - all - 33816 - -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 22.675 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.24 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -1.49 Å2 0 Å2 3- - - 1.26 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.02→14.88 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 490 26 187 703
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.02 0.012 629 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.006 0.02 375 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg2.488 1.354 937 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg2.562 3 888 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.406 0.2 78 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.041 0.02 337 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.008 0.02 137 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restr4.594 3 1002 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_free8.84 5 2 X-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded10.669 5 1134
LS精密化 シェル 解像度 : 1.02→1.046 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.302 82 - Rwork 0.335 1374 - obs - - 56.96 %