モノクロメーター: C (111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97872 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.82→41.9 Å / Num. obs: 15216 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 14.6 % / Biso Wilson estimate: 61.3 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.1 / Net I/σ(I): 16.6
反射 シェル
解像度: 2.82→2.89 Å / 冗長度: 13.1 % / Rmerge(I) obs: 0.59 / Mean I/σ(I) obs: 3.5 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE)
精密化
MOSFLM
データ削減
Aimless
データスケーリング
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: INITIAL MODEL FROM PRIOR DATASET 解像度: 2.82→34.59 Å / SU ML: 0.39 / σ(F): 1.91 / 位相誤差: 32.38 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: REFINEMENT NUMBER OF REFLECTIONS TREATS ANOMALOUS PAIRS SEPARATELY. A LARGE LOOP COMPRISING RESIDUES 434-441 IS POORLY ORDERED, DESPITE THE SIDECHAINS OF I435 AND L437 CONTRIBUTING TO A ...詳細: REFINEMENT NUMBER OF REFLECTIONS TREATS ANOMALOUS PAIRS SEPARATELY. A LARGE LOOP COMPRISING RESIDUES 434-441 IS POORLY ORDERED, DESPITE THE SIDECHAINS OF I435 AND L437 CONTRIBUTING TO A HYDROPHOBIC CRYSTAL CONTACT, AND A SECOND LOOP COMPRISING RESIDUES 561-566 IS ALSO POORLY ORDERED. RESIDUES OF BOTH HAVE BEEN BUILT AS ALA OR GLY WHERE SIDECHAIN POSITIONS COULD NOT BE DETERMINED.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2617
2808
10 %
Rwork
0.2247
-
-
obs
0.2285
15051
99 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL