モノクロメーター: CU / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.85→48.75 Å / Num. obs: 31054 / % possible obs: 99.4 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 16 % / Rmerge(I) obs: 0.07 / Net I/σ(I): 33.7
反射 シェル
解像度: 1.85→1.95 Å / 冗長度: 9.5 % / Rmerge(I) obs: 0.24 / Mean I/σ(I) obs: 10.2 / % possible all: 96.2
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.6.0117
精密化
XDS
データ削減
SCALA
データスケーリング
Auto-Rickshaw
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 1.85→54.23 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.921 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.897 / SU B: 5.061 / SU ML: 0.088 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.157 / ESU R Free: 0.14 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.23685
1586
5 %
RANDOM
Rwork
0.20732
-
-
-
obs
0.20881
29862
99.3 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK