GLN-ARG AT 459 IS ANNOTATED AS A CONFLICT IN UNIPROT
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折
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試料調製
結晶
マシュー密度: 2.33 Å3/Da / 溶媒含有率: 47.25 % / 解説: NONE
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データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: ESRF / ビームライン: ID29 / 波長: 0.98
検出器
タイプ: ADSC QUANTUM 315r / 検出器: CCD / 日付: 2007年5月5日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.98 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.64→30 Å / Num. obs: 35189 / % possible obs: 99 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 3.6 % / Biso Wilson estimate: 66.59 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 13.4
反射 シェル
解像度: 2.5→2.57 Å
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.9.6
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: OTHER 開始モデル: NONE 解像度: 2.5→16.62 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.934 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.8978 / SU R Cruickshank DPI: 0.479 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / SU R Blow DPI: 0.473 / SU Rfree Blow DPI: 0.267 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.271 詳細: TARGETED TO A HIGHER RESOLUTION STRUCTURE AS RESTRAINTS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2425
1751
4.98 %
RANDOM
Rwork
0.1915
-
-
-
obs
0.1941
35132
99.14 %
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原子変位パラメータ
Biso mean: 80.68 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
2.1166 Å2
0 Å2
-6.9684 Å2
2-
-
-9.687 Å2
0 Å2
3-
-
-
7.5705 Å2
Refine analyze
Luzzati coordinate error obs: 0.455 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.5→16.62 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
6724
0
12
287
7023
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
数
Restraint function
Weight
X-RAY DIFFRACTION
t_bond_d
0.01
6881
HARMONIC
2
X-RAY DIFFRACTION
t_angle_deg
1.08
9307
HARMONIC
2
X-RAY DIFFRACTION
t_dihedral_angle_d
2438
SINUSOIDAL
2
X-RAY DIFFRACTION
t_incorr_chiral_ct
X-RAY DIFFRACTION
t_pseud_angle
X-RAY DIFFRACTION
t_trig_c_planes
183
HARMONIC
2
X-RAY DIFFRACTION
t_gen_planes
967
HARMONIC
5
X-RAY DIFFRACTION
t_it
6881
HARMONIC
20
X-RAY DIFFRACTION
t_nbd
X-RAY DIFFRACTION
t_omega_torsion
3.43
X-RAY DIFFRACTION
t_other_torsion
19.36
X-RAY DIFFRACTION
t_improper_torsion
X-RAY DIFFRACTION
t_chiral_improper_torsion
893
SEMIHARMONIC
5
X-RAY DIFFRACTION
t_sum_occupancies
X-RAY DIFFRACTION
t_utility_distance
X-RAY DIFFRACTION
t_utility_angle
X-RAY DIFFRACTION
t_utility_torsion
X-RAY DIFFRACTION
t_ideal_dist_contact
7999
SEMIHARMONIC
4
LS精密化 シェル
解像度: 2.5→2.57 Å / Total num. of bins used: 18
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.263
126
4.36 %
Rwork
0.2177
2762
-
all
0.2197
2888
-
obs
-
-
99.14 %
精密化 TLS
手法: refined / Origin x: 32.4164 Å / Origin y: -0.0306 Å / Origin z: 25.562 Å