モノクロメーター: Rotated-inclined double-crystal monochromator , Si (111) プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.35→43.19 Å / Num. obs: 25590 / % possible obs: 99.6 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 14.1 % / Biso Wilson estimate: 54.799 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.091 / Net I/σ(I): 22.79
反射 シェル
Diffraction-ID: 1
解像度 (Å)
最高解像度 (Å)
Rmerge F obs
Rmerge(I) obs
Mean I/σ(I) obs
Num. measured obs
Num. possible
Num. unique obs
Rrim(I) all
% possible all
2.35-2.49
0.507
0.997
3.19
56684
4071
3973
1.034
97.6
2.49-2.66
0.305
0.638
5.08
56136
3827
3827
0.661
100
2.66-2.87
0.185
0.389
8.16
52366
3573
3573
0.403
100
2.87-3.14
0.094
0.194
15.46
48206
3312
3312
0.201
100
3.14-3.51
0.047
0.102
26.96
43301
3022
3022
0.106
100
3.51-4.05
0.029
0.065
39.29
37107
2666
2665
0.068
100
4.05-4.95
0.018
0.045
53.17
31027
2297
2297
0.046
100
4.95-6.95
0.018
0.044
52.5
23636
1816
1816
0.046
100
6.95
0.011
0.031
60.66
13308
1120
1105
0.032
98.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
XSCALE
データスケーリング
REFMAC
精密化
PDB_EXTRACT
3.11
データ抽出
XDS
データ削減
SHELXCD
位相決定
SOLVE
位相決定
RESOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.35→40.97 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.945 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.916 / WRfactor Rfree: 0.2572 / WRfactor Rwork: 0.1997 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 0.5 / FOM work R set: 0.8154 / SU B: 8.552 / SU ML: 0.205 / SU R Cruickshank DPI: 0.4946 / SU Rfree: 0.2869 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.495 / ESU R Free: 0.287 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT U VALUES: REFINED INDIVIDUALLY
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2677
1821
7.1 %
RANDOM
Rwork
0.2104
-
-
-
obs
0.2145
25589
99.56 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK