ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 PHASER位相決定 REFMAC5.6.0117精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 3KG4解像度 : 1.7→50 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.963 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.935 / SU B : 4.938 / SU ML : 0.081 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.117 / ESU R Free : 0.117 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUTRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22613 1076 5.1 % RANDOM Rwork 0.18302 - - - obs 0.18522 19912 96.24 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 32.212 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -2 Å2 -0 Å2 0.06 Å2 2- - 3.39 Å2 0 Å2 3- - - -1.39 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.7→50 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1576 0 0 154 1730
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.021 0.02 1607 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.942 1.944 2170 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.324 5 190 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.045 23 80 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.665 15 277 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg13.435 15 14 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.155 0.2 241 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.012 0.021 1214 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION r_scbond_itX-RAY DIFFRACTION r_scangle_itX-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.7→1.747 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.279 88 - Rwork 0.261 1349 - obs - - 92.53 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.7885 0.0475 0.0606 0.6493 -0.0002 0.9241 -0.0024 -0.0252 0.0184 -0.0232 0.0205 -0.0395 0.0649 -0.0875 -0.0181 0.0615 0.0054 0.0075 0.0167 0.0046 0.0519 -21.153 21.8386 -1.4548 2 0.823 -0.6887 -0.3475 2.194 -0.0549 1.4169 0.0262 0.1121 -0.0504 -0.0088 -0.0296 0.0773 0.163 -0.1632 0.0034 0.0509 -0.017 0.0092 0.0717 -0.0197 0.0936 -9.4757 17.039 -10.2634
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A-1 - 161 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A162 - 212