SIDE SCATTERING I-BEAM BENT SINGLE CRYSTAL, SI(111)
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
KOHZUMONOCHROMATOR, DOUBLECRYSTAL, SI(111)
MAD
M
x-ray
2
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.97607
1
2
0.97903
1
3
0.97923
1
4
0.96104
1
反射
解像度: 2.39→50 Å / Num. obs: 48090 / % possible obs: 99.8 % / 冗長度: 7 % / Rsym value: 0.128 / Net I/σ(I): 16.4
反射 シェル
解像度: 2.39→2.49 Å / 冗長度: 6.3 % / Mean I/σ(I) obs: 3.7 / Rsym value: 0.466 / % possible all: 99
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
Blu-Ice
データ収集
SOLVE
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.39→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.945 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.903 / SU B: 15.596 / SU ML: 0.187 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.265 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.261
2430
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.193
-
-
-
obs
0.196
45669
99.3 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK