ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 | NB |
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DENZO | | データ削減 | | SCALEPACK | | データスケーリング | | REFMAC | | 精密化 | | PDB_EXTRACT | 3.1 | データ抽出 | | CBASS | | データ収集 | | HKL-2000 | | データ削減 | | PHENIX | | 位相決定 | | CCP4 | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.09→40 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.962 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.94 / WRfactor Rfree: 0.27 / WRfactor Rwork: 0.224 / Occupancy max: 1 / Occupancy min: 1 / FOM work R set: 0.796 / SU B: 12.584 / SU ML: 0.148 / SU R Cruickshank DPI: 0.213 / SU Rfree: 0.189 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.213 / ESU R Free: 0.188 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES : RESIDUAL ONLY
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.253 | 3004 | 5.1 % | RANDOM |
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Rwork | 0.206 | - | - | - |
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obs | 0.208 | 59479 | 98.99 % | - |
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溶媒の処理 | イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK |
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原子変位パラメータ | Biso max: 59.43 Å2 / Biso mean: 31.206 Å2 / Biso min: 11.81 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 1.32 Å2 | 0 Å2 | -2.02 Å2 |
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2- | - | -1.01 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -0.44 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.09→40 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 6811 | 0 | 0 | 36 | 6847 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.014 | 0.021 | 7018 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.461 | 1.921 | 9530 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg6.621 | 5 | 856 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_2_deg24.566 | 21.433 | 349 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg15.942 | 15 | 973 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_4_deg16.737 | 15 | 72 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.104 | 0.2 | 969 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.007 | 0.021 | 5601 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.908 | 1.5 | 4314 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.659 | 2 | 6810 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it2.373 | 3 | 2704 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.654 | 4.5 | 2720 | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.095→2.149 Å / Total num. of bins used: 20
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.301 | 190 | - |
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Rwork | 0.261 | 3785 | - |
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all | - | 3975 | - |
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obs | - | - | 90.4 % |
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精密化 TLS | 手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION ID | L11 (°2) | L12 (°2) | L13 (°2) | L22 (°2) | L23 (°2) | L33 (°2) | S11 (Å °) | S12 (Å °) | S13 (Å °) | S21 (Å °) | S22 (Å °) | S23 (Å °) | S31 (Å °) | S32 (Å °) | S33 (Å °) | T11 (Å2) | T12 (Å2) | T13 (Å2) | T22 (Å2) | T23 (Å2) | T33 (Å2) | Origin x (Å) | Origin y (Å) | Origin z (Å) |
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1 | 1.7766 | 1.2555 | 0.3823 | 2.6813 | -0.7553 | 2.4097 | -0.1552 | 0.0034 | -0.0556 | -0.0983 | 0.1839 | -0.1033 | -0.0359 | -0.0539 | -0.0286 | 0.1414 | 0.0448 | -0.0787 | 0.1968 | 0.0281 | 0.0951 | 30.694 | 5.969 | 71.664 | 2 | 2.4596 | 1.4574 | 1.9702 | 3.3504 | -0.1347 | 4.2627 | -0.0592 | 0.2828 | 0.1594 | -0.2835 | -0.0042 | 0.0404 | 0.0025 | 0.766 | 0.0635 | 0.0771 | 0.0214 | -0.0362 | 0.3839 | -0.0218 | 0.0599 | 59.527 | -27.287 | 65.349 | 3 | 1.8425 | -1.5517 | 0.9657 | 3.5898 | -0.4816 | 2.2175 | -0.1482 | -0.1291 | 0.0761 | 0.3162 | 0.2257 | 0.0482 | -0.1335 | -0.2497 | -0.0775 | 0.1219 | 0.0152 | -0.0359 | 0.2528 | 0.0592 | 0.0778 | 34.867 | -27.745 | 94.203 | 4 | 2.0192 | -1.4255 | 0.4417 | 2.6877 | 0.4031 | 2.334 | -0.1411 | 0.0841 | -0.1024 | 0.1911 | 0.1632 | 0.1376 | -0.0738 | 0.0606 | -0.0221 | 0.2245 | -0.0764 | -0.1426 | 0.2308 | -0.0088 | 0.1466 | 64.181 | 4.974 | 90.224 |
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精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
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1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A2 - 257 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | A273 - 283 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B2 - 257 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 2 | B273 - 278 | 5 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | C2 - 257 | 6 | X-RAY DIFFRACTION | 3 | C273 - 283 | 7 | X-RAY DIFFRACTION | 4 | D2 - 259 | 8 | X-RAY DIFFRACTION | 4 | D273 - 280 | | | | | | | | |
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