温度: 298 K / 手法: 蒸気拡散法 / pH: 7.5 詳細: 0.1 M HEPES, pH 7.5, 0.45-0.50 M sodium citrate, VAPOR DIFFUSION, temperature 298.0K
-
データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
100
1
2
100
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長 (Å)
シンクロトロン
NSLS
X25
1
1.1
シンクロトロン
NSLS
X25
2
0.9795, 0.9797, 0.9641
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
ADSC QUANTUM 315
1
CCD
2007年10月28日
ADSC QUANTUM 315
2
CCD
2007年10月15日
放射
ID
モノクロメーター
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
Double silicon(111) crystal monochromator with cryogenically-cooled first crystal and sagittally-bent second crystal horizontally-focusing at 3.3:1 demagnification
SINGLEWAVELENGTH
M
x-ray
1
2
Double silicon(111) crystal monochromator with cryogenically-cooled first crystal and sagittally-bent second crystal horizontally-focusing at 3.3:1 demagnification
MAD
M
x-ray
1
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
1.1
1
2
0.9795
1
3
0.9797
1
4
0.9641
1
反射
解像度: 2.4→100 Å / Num. obs: 21447 / % possible obs: 99.2 % / 冗長度: 7.1 % / Rsym value: 0.073 / Net I/σ(I): 28.7
反射 シェル
解像度: 2.4→2.49 Å / 冗長度: 6.6 % / Mean I/σ(I) obs: 2.8 / Num. unique all: 2056 / Rsym value: 0.433 / % possible all: 96.8
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データ収集
SHARP
位相決定
REFMAC
5.2.0019
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 多波長異常分散 / 解像度: 2.4→40 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.949 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.94 / SU B: 9.925 / SU ML: 0.217 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.287 / ESU R Free: 0.233 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26607
1103
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.22892
-
-
-
obs
0.23082
20321
99.13 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK