ソフトウェア 名称 バージョン 分類 SBC-Collectデータ収集 HKL-3000データ収集 HKL-3000位相決定 MLPHARE位相決定 直接法モデル構築 SHELXD位相決定 RESOLVEモデル構築 Cootモデル構築 REFMAC5.5.0053精密化 HKL-3000データ削減 HKL-3000データスケーリング 直接法位相決定 RESOLVE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単波長異常分散 / 解像度 : 1.6→26.32 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.954 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.933 / SU B : 3.78 / SU ML : 0.066 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R : 0.108 / ESU R Free : 0.108 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD WITH PHASESRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.227 840 5.1 % RANDOM Rwork 0.186 - - - all 0.188 15664 - - obs 0.188 15664 96.04 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 16.335 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.01 Å2 0 Å2 -0.09 Å2 2- - 0.23 Å2 0 Å2 3- - - -0.32 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.6→26.32 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1076 0 58 88 1222
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.018 0.022 1250 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.842 2.015 1715 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.194 5 146 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg38.573 24.355 62 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg15.228 15 220 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg18.292 15 9 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.136 0.2 184 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.009 0.021 951 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refinedX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.215 1.5 704 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.112 2 1163 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.934 3 546 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.588 4.5 552 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 1.6→1.643 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.359 46 - Rwork 0.287 856 - obs - 902 70.69 %
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : -3.2248 Å / Origin y : 36.7979 Å / Origin z : 20.3917 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0193 Å2 0.0014 Å2 -0.0085 Å2 - 0.0204 Å2 0.0076 Å2 - - 0.0206 Å2 L 0.5611 °2 -0.023 °2 -0.476 °2 - 0.4869 °2 0.2164 °2 - - 1.1142 °2 S 0.0466 Å ° -0.0182 Å ° -0.0296 Å ° 0.0124 Å ° -0.0355 Å ° -0.0315 Å ° 0.0531 Å ° 0.0582 Å ° -0.0111 Å °