ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 HKL-2000データ収集 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB entry 2CD0解像度 : 1.9→32.34 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.959 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.931 / SU B : 3.648 / SU ML : 0.084 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.15 / ESU R Free : 0.141 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.21 1957 10.2 % RANDOM Rwork 0.164 - - - obs 0.168 17185 99.91 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 19.235 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.02 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.02 Å2 0 Å2 3- - - 0 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.9→32.34 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1678 0 51 161 1890
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.013 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.436 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.715 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg39.347 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.27 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg13.064 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.1 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined
LS精密化 シェル 解像度 : 1.9→1.949 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.281 142 - Rwork 0.197 1228 - obs - - 98.7 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.7725 0.094 -0.6218 2.3196 -0.5416 0.8008 -0.0039 -0.1006 0.0093 -0.1148 -0.0093 -0.103 0.0937 0.0326 0.0132 -0.017 0.0074 0.0032 -0.0345 -0.0081 -0.0694 31.6075 23.6648 56.1857 2 0.7831 0.1709 -0.4309 1.1699 -0.1219 0.7905 0.0311 0.0197 0.0205 -0.0529 0.033 0.0213 -0.0194 -0.028 -0.0641 -0.0235 0.0027 0.0102 -0.0147 0.0083 -0.0298 16.2058 39.572 50.9578
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA1 - 111 1 - 111 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB1 - 111 1 - 111