モノクロメーター: Si111 / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.979 Å / 相対比: 1
Reflection
冗長度: 7.5 % / Av σ(I) over netI: 9.2 / 数: 58446 / Rmerge(I) obs: 0.083 / Χ2: 1.01 / D res high: 2 Å / D res low: 50 Å / Num. obs: 7815 / % possible obs: 99.9
Diffraction reflection shell
最高解像度 (Å)
最低解像度 (Å)
% possible obs (%)
ID
Rmerge(I) obs
Chi squared
Redundancy
4.31
50
99.4
1
0.042
1.052
7
3.42
4.31
100
1
0.043
1.011
7.5
2.99
3.42
100
1
0.065
1.018
7.7
2.71
2.99
100
1
0.1
1.013
7.7
2.52
2.71
100
1
0.135
0.976
7.8
2.37
2.52
100
1
0.188
0.964
7.8
2.25
2.37
100
1
0.235
1.006
7.7
2.15
2.25
100
1
0.269
1.007
7.6
2.07
2.15
100
1
0.346
1.029
7.3
2
2.07
99.7
1
0.444
1.053
6.8
反射
解像度: 2→50 Å / Num. all: 7815 / Num. obs: 7815 / % possible obs: 99.9 % / 冗長度: 7.5 % / Rmerge(I) obs: 0.083 / Net I/σ(I): 22.4
反射 シェル
解像度: 2→2.07 Å / 冗長度: 6.8 % / Rmerge(I) obs: 0.444 / Mean I/σ(I) obs: 4.05 / Num. unique all: 761 / % possible all: 99.7