ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ASP 23 TO ALA ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, PRO 33 TO HIS ...ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ASP 23 TO ALA ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, PRO 33 TO HIS ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN B, ASP 23 TO ALA ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN B, PRO 33 TO HIS
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1
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試料調製
結晶
マシュー密度: 2.67 Å3/Da / 溶媒含有率: 53.57 % / 解説: NONE
結晶化
温度: 276 K / 詳細: CRYSTALLIZED AT 276K IN 25% ETHYLENE GLYCOL
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データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: SLS / ビームライン: X06SA / 波長: 1
検出器
タイプ: DECTRIS PILATUS 6M / 検出器: PIXEL
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2→65 Å / Num. obs: 34078 / % possible obs: 95.2 % / Observed criterion σ(I): -10 / 冗長度: 3.2 % / Biso Wilson estimate: 33.5 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.09 / Net I/σ(I): 10.5
反射 シェル
解像度: 2→2.12 Å / 冗長度: 3 % / Rmerge(I) obs: 0.46 / Mean I/σ(I) obs: 3.7 / % possible all: 93.3
解像度: 2→65.23 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.944 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.917 / SU B: 12.51 / SU ML: 0.182 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.205 / ESU R Free: 0.184 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. EXTRA ELECTRON DENSITY MODELED AS TWO DITHIOTHREITO MOLECULES. IDENTITY NOT CONFIRMED.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.26947
1697
4.9 %
RANDOM
Rwork
0.225
-
-
-
obs
0.22725
32594
96.14 %
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溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK