ソフトウェア 名称 バージョン 分類 HKL-2000データ収集 MOLREP位相決定 REFMAC5.2 精密化 HKL-2000データ削減 HKL-2000データスケーリング
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1TZI 1HR2解像度 : 1.95→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.96 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.945 / SU B : 8.147 / SU ML : 0.104 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R : 0.157 / ESU R Free : 0.141 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.22607 3875 5 % RANDOM Rwork 0.19476 - - - all 0.19632 77127 - - obs 0.19632 77127 98.6 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 35.918 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -2.23 Å2 0 Å2 -0.4 Å2 2- - 0.94 Å2 0 Å2 3- - - 1.04 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.95→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3263 3404 4 529 7200
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 25) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.007 0.02 7180 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.002 0.02 3546 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.33 2.517 10516 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg1.022 2.48 8877 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg7.445 5 429 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg32.954 24.016 127 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg14.124 15 531 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg14.991 15 13 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.059 0.2 1310 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.005 0.02 5403 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 670 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.162 0.2 1167 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.205 0.2 4062 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.212 0.2 3089 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.08 0.2 2451 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.147 0.2 605 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.038 0.2 3 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.151 0.2 17 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.183 0.2 54 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.141 0.2 31 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.271 1.5 2182 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.326 1.5 873 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.092 2 3482 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.349 3 6768 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.183 4.5 7034
LS精密化 シェル 解像度 : 1.95→2 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.287 261 - Rwork 0.253 5207 - obs - - 96.12 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.3487 -0.044 -0.1734 0.1881 0.0985 0.5512 -0.0758 0.1597 0.0044 -0.0714 0.0529 0.0345 0.1054 0.0236 0.0229 0.0197 0.026 0.0057 0.0176 0.0039 -0.0486 73.6258 -30.9957 20.2968 2 0.8963 -0.4232 -0.2112 0.8209 0.2521 0.3082 0.056 0.0467 0.0469 -0.0504 -0.0983 0.0109 -0.03 -0.1065 0.0423 -0.0321 0.068 -0.0331 -0.0397 -0.0041 -0.0567 37.4817 1.891 46.7597 3 0.9529 -0.2678 -0.4182 0.5593 0.2167 0.6722 0.0628 -0.0518 -0.0315 0.009 -0.0877 -0.0508 0.0046 -0.0616 0.0249 -0.0112 0.0194 -0.0112 -0.0512 0.0046 -0.0501 51.3201 -1.6548 58.6821
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 R102 - 261 2 X-RAY DIFFRACTION 1 R1001 - 1004 3 X-RAY DIFFRACTION 2 L1 - 214 4 X-RAY DIFFRACTION 2 L1001 - 1131 5 X-RAY DIFFRACTION 3 H1 - 224 6 X-RAY DIFFRACTION 3 H1001 - 1141