解像度: 2→50 Å / Num. obs: 19206 / % possible obs: 94.8 % / 冗長度: 6.4 % / Rmerge(I) obs: 0.067 / Χ2: 1.854 / Net I/σ(I): 12.2
反射 シェル
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Num. unique all
Χ2
Diffraction-ID
% possible all
2-2.07
2.7
0.435
1248
0.599
1,2
62.5
2.07-2.15
4.2
0.361
1740
0.573
1,2
88
2.15-2.25
5.7
0.288
1943
0.635
1,2
97.2
2.25-2.37
6.7
0.219
1994
0.688
1,2
99.7
2.37-2.52
7.2
0.179
1976
0.753
1,2
100
2.52-2.71
7.3
0.124
2034
0.953
1,2
100
2.71-2.99
7.3
0.092
2011
1.379
1,2
100
2.99-3.42
7.3
0.071
2029
2.365
1,2
100
3.42-4.31
7.1
0.058
2064
3.604
1,2
100
4.31-50
6.7
0.05
2167
4.826
1,2
99.3
-
位相決定
位相決定
手法: 単波長異常分散
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SHELX
位相決定
RESOLVE
位相決定
REFMAC
refmac_5.3.0037
精密化
PDB_EXTRACT
2
データ抽出
ADSC
Quantum
データ収集
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.948 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.913 / WRfactor Rfree: 0.274 / WRfactor Rwork: 0.224 / SU B: 7.771 / SU ML: 0.109 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R: 0.167 / ESU R Free: 0.163 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: 1. HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. 2. TLS parameters were refined. 3. Atomic temperature factors are residuals. 4. Resolve, coot, molprobity programs have also been used in refinement.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.269
842
4.4 %
thin shells
Rwork
0.222
-
-
-
all
0.224
-
-
-
obs
0.224
19071
95.16 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 30.328 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
1.5 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
-0.58 Å2
0 Å2
3-
-
-
-0.92 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2→20 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1509
0
12
48
1569
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.017
0.022
1541
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_other_d
0.001
0.02
1001
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.412
1.993
2110
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_other_deg
0.926
3
2483
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
6.685
5
201
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
36.288
24.902
51
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
11.63
15
250
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
15.163
15
7
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.083
0.2
263
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.005
0.02
1674
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_other
0.001
0.02
257
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.202
0.2
242
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_other
0.189
0.2
985
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.161
0.2
707
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_other
0.086
0.2
778
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.133
0.2
47
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.154
0.2
8
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_other
0.176
0.2
30
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.082
0.2
5
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
1.03
1.5
1113
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_other
0.201
1.5
403
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
1.323
2
1649
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
2.042
3
575
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
2.942
4.5
460
LS精密化 シェル
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Total num. of bins used: 20