ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 MxCuBEデータ収集 MOSFLMデータ削減 SCALAデータスケーリング PHASER位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : Globular domain from pdb file 1FZR解像度 : 3.1→11.93 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.909 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.895 / SU B : 41.864 / SU ML : 0.542 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 / ESU R Free : 0.52 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.29776 538 4.7 % RANDOM Rwork 0.26704 - - - obs 0.26848 10851 99.37 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 96.457 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.02 Å2 -0.01 Å2 0 Å2 2- - -0.02 Å2 0 Å2 3- - - 0.04 Å2
Refine analyze Luzzati coordinate error obs : 0.811 Å / Luzzati d res low obs : 11.9 Å精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 3.1→11.93 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2139 1098 4 0 3241
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 18) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.011 0.022 3599 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.893 2.408 5141 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.743 5 257 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg35.712 23.663 101 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg19.532 15 411 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg10.965 15 13 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.116 0.2 537 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.004 0.02 3489 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.229 0.2 1392 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.313 0.2 2132 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.177 0.2 85 X-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refined0.193 0.2 2 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.19 0.2 19 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.094 0.2 2 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.64 1.5 1334 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.085 2 2108 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it1.172 3 4698 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it2.598 4.5 3033
Refine LS restraints NCS Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
Dom-ID 数 タイプ Rms dev position (Å)Weight position 1 1060 tight positional0.05 0.05 1 6 loose positional1.86 5 2 1060 tight thermal0.09 0.5 2 6 loose thermal1.63 10
LS精密化 シェル 解像度 : 3.1→3.175 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.513 27 - Rwork 0.387 748 - obs - - 100 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 3) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 3.6229 -0.5248 -0.7993 4.7778 -2.0248 4.6715 -0.0619 -0.4985 0.1566 0.6371 -0.9775 -1.0436 -0.7336 2.2821 1.0394 -0.224 -0.4915 -0.2993 0.5872 0.38 -0.0144 32.099 1.581 -27.023 2 2.4986 1.1279 -0.3042 2.5943 -2.2075 5.2469 -0.0914 -0.8896 -0.8223 0.1573 -0.7089 -0.6707 0.8113 1.7026 0.8003 -0.1628 0.1401 0.1077 0.4781 0.5065 0.1819 26.587 -17.326 -19.231 3 5.3504 3.1942 -1.1286 3.5595 -3.7473 5.9545 -0.3192 -0.0973 -0.3535 -0.3026 -0.1549 -1.2923 -0.5706 1.4623 0.474 -0.3059 0.0281 0.0857 0.7462 0.6278 0.4499 44.478 -10.866 -22.245
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AC17 - 145 17 - 145 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BD17 - 145 17 - 145 3 X-RAY DIFFRACTION 3 ZA1 - 8 1 - 8 4 X-RAY DIFFRACTION 3 YB22 - 29 22 - 29