ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.2.0019精密化 CrystalClearデータ収集 CrystalClearデータ削減 CrystalClearデータスケーリング MOLREP位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1ERU解像度 : 1.8→29.25 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.947 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.91 / SU B : 2.828 / SU ML : 0.09 / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.14 / ESU R Free : 0.143 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.25519 1051 5.1 % RANDOM Rwork 0.19765 - - - obs 0.20053 19400 98.15 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 21.188 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.31 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.35 Å2 0 Å2 3- - - 0.04 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.8→29.25 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1644 0 0 153 1797
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.014 0.022 1676 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.399 1.991 2270 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg4.876 5 208 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg31.135 25.938 64 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg13.174 15 316 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg24.929 15 4 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.103 0.2 266 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.006 0.02 1212 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.207 0.2 817 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refined0.306 0.2 1153 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.125 0.2 118 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.219 0.2 34 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.145 0.2 15 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it0.907 1.5 1083 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it1.45 2 1714 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.591 3 672 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it4.017 4.5 556 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
Refine LS restraints NCS Dom-ID : 1 / Auth asym-ID : A / Ens-ID : 1 / 数 : 816 / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
タイプ Rms dev position (Å)Weight position medium positional0.7 0.5 medium thermal1.17 2
LS精密化 シェル 解像度 : 1.8→1.847 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.369 66 - Rwork 0.284 1422 - obs - - 97.57 %
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 2.5977 -0.8534 -2.1265 4.3418 -4.5814 15.4171 0.0981 0.2222 -0.1655 0.1707 0.235 0.4301 0.2456 -0.6243 -0.3331 -0.0184 -0.0745 0.0567 -0.0444 0.0234 0.0014 -8.758 8.321 -10.708 2 3.6569 3.9212 -3.0478 11.2951 2.0581 6.5411 -0.2863 -0.5785 -0.2251 0.1944 0.7423 0.7113 -0.094 -1.3684 -0.456 -0.1056 0.0291 0.1024 0.0634 0.0398 0.0124 -15.397 16.907 -11.802
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Auth seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 A84 - 93 2 X-RAY DIFFRACTION 2 A108 - 110