ソフトウェア 名称 バージョン 分類 REFMAC5.1.19精密化 CrystalClearデータ削減 d*TREKデータスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : PDB ENTRY 1SC3解像度 : 2.1→20 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.946 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.907 / SU B : 4.468 / SU ML : 0.12 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.234 / ESU R Free : 0.198 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOODRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.23632 834 5.1 % RANDOM Rwork 0.17959 - - - all 0.214 16362 - - obs 0.18232 15528 93.82 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : MASK原子変位パラメータ Biso mean : 16.587 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.36 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - -0.36 Å2 0 Å2 3- - - 0.72 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.1→20 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2041 0 0 215 2256
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 33) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.008 0.021 2113 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.001 1.96 2848 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg5.635 5 251 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_degX-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_degX-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.069 0.2 322 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.003 0.02 1560 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.183 0.2 1005 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_refinedX-RAY DIFFRACTION r_nbtor_otherX-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.117 0.2 194 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_otherX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.14 0.2 62 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.149 0.2 21 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_refinedX-RAY DIFFRACTION r_symmetry_metal_ion_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it1.793 2.5 1272 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_otherX-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it2.983 5 2074 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it2.448 2.5 841 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it3.698 5 773 X-RAY DIFFRACTION r_rigid_bond_restrX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_freeX-RAY DIFFRACTION r_sphericity_bonded
LS精密化 シェル 解像度 : 2.1→2.173 Å / Total num. of bins used : 15 / Rfactor 反射数 Rfree 0.227 70 Rwork 0.196 1232
精密化 TLS 手法 : refined / Origin x : 60.2668 Å / Origin y : 48.2601 Å / Origin z : 32.0748 Å11 12 13 21 22 23 31 32 33 T 0.0171 Å2 -0.0118 Å2 -0.0013 Å2 - 0.0419 Å2 -0.0131 Å2 - - 0.0308 Å2 L 1.0544 °2 -0.0089 °2 -0.0886 °2 - 0.9673 °2 -0.0965 °2 - - 0.8846 °2 S -0.0121 Å ° 0.0977 Å ° -0.0741 Å ° -0.0405 Å ° 0.0119 Å ° 0.034 Å ° 0.0915 Å ° -0.1617 Å ° 0.0002 Å °
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA128 - 145 9 - 26 2 X-RAY DIFFRACTION 1 AA149 - 297 30 - 178 3 X-RAY DIFFRACTION 1 BB318 - 404 2 - 88 4 X-RAY DIFFRACTION 1 AC501 1