CUTS URACIL RESIDUES FROM THE DNA. ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ASP 178 TO ASN ENGINEERED RESIDUE ...CUTS URACIL RESIDUES FROM THE DNA. ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, ASP 178 TO ASN ENGINEERED RESIDUE IN CHAIN A, HIS 300 TO ASN
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折
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試料調製
結晶
マシュー密度: 1.89 Å3/Da / 溶媒含有率: 34.51 %
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データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: シンクロトロン / サイト: SRS / ビームライン: PX9.6 / 波長: 0.87
検出器
タイプ: ADSC CCD / 検出器: CCD
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.87 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→30 Å / Num. obs: 12927 / % possible obs: 100 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 3.7 % / Biso Wilson estimate: 3.5 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 12.56
反射 シェル
解像度: 2.1→2.18 Å / 冗長度: 3.7 % / Rmerge(I) obs: 0.22 / Mean I/σ(I) obs: 5.26 / % possible all: 100
解像度: 2.1→29.59 Å / Rfactor Rfree error: 0.008 / Data cutoff high absF: 1105069.29 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 詳細: RESIDUES 1 - 16 IN THIS MOLECULE DO NOT APPEAR IN THE ELECTRON DENSITY AND ARE PRESUMED TO BE DISORDERED.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.212
646
5 %
RANDOM
Rwork
0.151
-
-
-
obs
0.151
12912
99.8 %
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溶媒の処理
溶媒モデル: CNS BULK SOLVENT MODEL USED / Bsol: 52.0358 Å2 / ksol: 0.335261 e/Å3
原子変位パラメータ
Biso mean: 14.71 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
2.46 Å2
0 Å2
-3.85 Å2
2-
-
-2.57 Å2
0 Å2
3-
-
-
0.11 Å2
Refine analyze
Free
Obs
Luzzati coordinate error
0.24 Å
0.16 Å
Luzzati d res low
-
5 Å
Luzzati sigma a
0.07 Å
0.02 Å
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 2.1→29.59 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
1797
0
23
259
2079
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d
0.016
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_bond_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg
1.7
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_na
X-RAY DIFFRACTION
c_angle_deg_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d
23.8
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_dihedral_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d
1.13
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_na
X-RAY DIFFRACTION
c_improper_angle_d_prot
X-RAY DIFFRACTION
c_mcbond_it
1.25
1.5
X-RAY DIFFRACTION
c_mcangle_it
1.75
2
X-RAY DIFFRACTION
c_scbond_it
3.34
2
X-RAY DIFFRACTION
c_scangle_it
4.02
2.5
LS精密化 シェル
解像度: 2.1→2.23 Å / Rfactor Rfree error: 0.02 / Total num. of bins used: 6