プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.97958 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.45→20 Å / Num. obs: 9357 / % possible obs: 89.9 % / Observed criterion σ(I): 0 / 冗長度: 8.8 % / Rmerge(I) obs: 0.08 / Net I/σ(I): 17
反射 シェル
解像度: 3.45→3.6 Å / 冗長度: 6.6 % / Rmerge(I) obs: 0.37 / Mean I/σ(I) obs: 2.42 / % possible all: 85
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
CNS
1.1
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
RESOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 3.3→16 Å / Data cutoff high absF: 10000 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: SIDE CHAINS FOR THE FOLLOWING RESIDUES WERE NOT VISIBLE IN THE ELECTRON DENSITY AND HAVE BEEN MODELLED AS ALANINE RESIDUES. CHAIN A Q13, K15, E16, K58, Q73, L78, L84, L85 CHAIN B E14, K45, ...詳細: SIDE CHAINS FOR THE FOLLOWING RESIDUES WERE NOT VISIBLE IN THE ELECTRON DENSITY AND HAVE BEEN MODELLED AS ALANINE RESIDUES. CHAIN A Q13, K15, E16, K58, Q73, L78, L84, L85 CHAIN B E14, K45, K57, D76 CHAIN C D9, Q10, K12, Q13, E16, R39, E44, Q54, K58, Q73 CHAIN D Q7, K57, D60, E63, R64, K67, K68, E77, K81, R82, Q84 CHAIN E Q13, E44, Q54, K58, Q73, Q74, N75 CHAIN F E12, L13, E14, R31, K45, K68, S73