プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9793 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 4.5→20 Å / Num. obs: 4479 / % possible obs: 100 %
反射 シェル
解像度: 4.5→4.66 Å / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
NB
REFMAC
5.2.0005
精密化
PDB_EXTRACT
1.7
データ抽出
DENZO
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 4.5→20 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.91 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.866 / SU B: 180.892 / SU ML: 1.005 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 1.3 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: POORLY DEFINED ELECTRON DENSITY WAS OBSERVED FOR SEVERAL SIDE CHAINS. NEVERTHELESS THEIR INCLUSION LEAD TO BETTER BEHAVIOUR DURING REFINEMENT, ACCORDING TO THE RFREE VALUE, AND THE RFREE/RWORK DIFFERENTIAL
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.346
321
7.6 %
RANDOM
Rwork
0.271
-
-
-
all
0.276
-
-
-
obs
-
4215
95.82 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 1.4 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK
原子変位パラメータ
Biso mean: 166.369 Å2
Baniso -1
Baniso -2
Baniso -3
1-
12.96 Å2
0 Å2
0 Å2
2-
-
12.96 Å2
0 Å2
3-
-
-
-25.93 Å2
精密化ステップ
サイクル: LAST / 解像度: 4.5→20 Å
タンパク質
核酸
リガンド
溶媒
全体
原子数
2468
0
6
0
2474
拘束条件
Refine-ID
タイプ
Dev ideal
Dev ideal target
数
X-RAY DIFFRACTION
r_bond_refined_d
0.013
0.022
2535
X-RAY DIFFRACTION
r_angle_refined_deg
1.786
1.967
3453
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_1_deg
9.621
5
321
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_2_deg
39.846
25.739
115
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_3_deg
25.133
15
418
X-RAY DIFFRACTION
r_dihedral_angle_4_deg
14.518
15
9
X-RAY DIFFRACTION
r_chiral_restr
0.142
0.2
397
X-RAY DIFFRACTION
r_gen_planes_refined
0.004
0.02
1936
X-RAY DIFFRACTION
r_nbd_refined
0.297
0.2
1472
X-RAY DIFFRACTION
r_nbtor_refined
0.326
0.2
1675
X-RAY DIFFRACTION
r_xyhbond_nbd_refined
0.233
0.2
100
X-RAY DIFFRACTION
r_metal_ion_refined
0.322
0.2
20
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_vdw_refined
0.806
0.2
125
X-RAY DIFFRACTION
r_symmetry_hbond_refined
0.538
0.2
8
X-RAY DIFFRACTION
r_mcbond_it
0.245
1.5
1638
X-RAY DIFFRACTION
r_mcangle_it
0.445
2
2613
X-RAY DIFFRACTION
r_scbond_it
0.507
3
987
X-RAY DIFFRACTION
r_scangle_it
0.892
4.5
840
LS精密化 シェル
解像度: 4.5→4.736 Å / Total num. of bins used: 10
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.39
38
-
Rwork
0.325
505
-
all
-
543
-
obs
-
-
90.35 %
精密化 TLS
手法: refined / Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION
ID
L11 (°2)
L12 (°2)
L13 (°2)
L22 (°2)
L23 (°2)
L33 (°2)
S11 (Å °)
S12 (Å °)
S13 (Å °)
S21 (Å °)
S22 (Å °)
S23 (Å °)
S31 (Å °)
S32 (Å °)
S33 (Å °)
T11 (Å2)
T12 (Å2)
T13 (Å2)
T22 (Å2)
T23 (Å2)
T33 (Å2)
Origin x (Å)
Origin y (Å)
Origin z (Å)
1
5.863
0.4537
-4.1716
8.3445
0.7209
12.0052
-0.6164
0.1034
-0.0351
0.9899
-0.5532
0.5726
-0.0061
-2.5002
1.1696
-0.4945
0.061
0.0261
0.4646
0.1766
-0.2245
-78.9166
-86.643
261.8446
2
12.0405
1.8652
-12.5968
2.1168
-5.9689
29.5966
-0.04
-0.2095
-0.3454
-0.2632
-0.0098
0.68
-0.0484
-0.1777
0.0498
-0.7159
0.031
0.011
-0.9103
-0.0009
-0.571
-47.0701
-83.7868
229.4645
3
9.2523
-2.9753
-4.864
9.3704
12.8447
55.2841
-0.6448
0.1907
0.6518
-0.3176
0.5473
0.8588
0.3539
0.0765
0.0976
-0.572
0.0228
-0.1093
-0.732
0.2613
-0.418
-33.4782
-83.7254
183.828
精密化 TLSグループ
Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Selection: ALL / Auth asym-ID: A / Label asym-ID: A