ソフトウェア 名称 バージョン 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング MOLREP位相決定 REFMAC5.2.0000精密化
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : 1g76解像度 : 1.5→43.05 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.974 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.963 / SU B : 2.403 / SU ML : 0.045 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / ESU R : 0.061 / ESU R Free : 0.064 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.18276 2570 5.1 % RANDOM Rwork 0.15443 - - - obs 0.15589 48092 99.53 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.2 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 23.707 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0.13 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.97 Å2 0 Å2 3- - - -1.09 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.5→43.05 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 2139 0 32 269 2440
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 23) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.018 0.022 2295 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0.001 0.02 2098 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.749 1.925 3111 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.874 3 4845 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg6.672 5 290 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg39.066 24.188 117 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_3_deg12.654 15 369 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_4_deg19.922 15 16 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.112 0.2 349 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.008 0.02 2604 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.001 0.02 506 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.22 0.2 390 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.189 0.2 2281 X-RAY DIFFRACTION r_nbtor_other0.087 0.2 1485 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.144 0.2 180 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.223 0.2 11 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.185 0.2 38 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.183 0.2 18 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it2.468 3 1488 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_other0.579 3 576 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it3.07 5 2275 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it4.724 8 964 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it6.555 11 829
LS精密化 シェル 解像度 : 1.498→1.537 Å / Total num. of bins used : 20 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.275 199 5.65 % Rwork 0.26 3326 -
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 2) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 0.2904 0.0777 -0.1053 0.2851 -0.2631 1.3003 0.035 0.0171 0.0472 -0.0084 -0.0007 -0.0036 -0.1299 -0.1058 -0.0344 -0.0834 0.0115 0.0083 -0.0858 0.0113 -0.0675 6.5733 23.0852 -4.0513 2 0.9989 0.3158 0.002 0.8758 -0.2841 1.4492 -0.0115 -0.0283 -0.0782 0.0301 0.0029 -0.0673 0.1366 0.1053 0.0086 -0.1662 -0.0034 -0.0036 -0.1868 -0.0028 -0.1464 12.7359 8.5223 10.6277
精密化 TLSグループ Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION / Selection : ALL / Auth seq-ID : 11 - 145 / Label seq-ID : 23 - 157
ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID 1 1 AA2 2 BB