ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1.1 精密化 SCALEPACKデータスケーリング EPMR位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : ndb id UD0019
解像度 : 2.2→18.2 Å / Rfactor Rfree error : 0.015 / Data cutoff high absF : 44978.75 / Data cutoff high rms absF : 44978.75 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / σ(I) : 0 Rfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.258 286 10 % RANDOM Rwork 0.236 - - - all 0.266 3492 - - obs 0.236 2852 96.2 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 50.3728 Å2 / ksol : 0.360393 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 11.2 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.08 Å2 0 Å2 -1.93 Å2 2- - 2.33 Å2 0 Å2 3- - - -4.41 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.29 Å 0.28 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.37 Å 0.16 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.2→18.2 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 0 404 0 62 466
拘束条件 大きな表を表示 (3 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.003 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg0.8 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d18.4 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d1.28 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_itX-RAY DIFFRACTION c_mcangle_itX-RAY DIFFRACTION c_scbond_itX-RAY DIFFRACTION c_scangle_it
LS精密化 シェル 解像度 : 2.2→2.34 Å / Rfactor Rfree error : 0.053 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.334 40 9.3 % Rwork 0.267 391 - obs - - 88 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 DNA-RNA_REP.PARAM DNA-RNA.TOP X-RAY DIFFRACTION 2 ION.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARAMWATER.TOP