ソフトウェア 名称 バージョン 分類 DENZOデータ削減 SCALEPACKデータスケーリング SHELXD位相決定 REFMAC5 精密化
精密化 構造決定の手法 : 多波長異常分散 / 解像度 : 1.8→21.22 Å / Cor.coef. Fo :Fc : 0.961 / Cor.coef. Fo :Fc free : 0.95 / SU B : 3.27 / SU ML : 3.27 / SU Rfree : 0.108 / TLS residual ADP flag : LIKELY RESIDUAL / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / ESU R : 0.111 / ESU R Free : 0.108 / 立体化学のターゲット値 : MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細 : HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONSRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.20687 6864 5 % RANDOM Rwork 0.17636 - - - all 0.17792 - - - obs 0.17792 129459 97.26 % -
溶媒の処理 イオンプローブ半径 : 0.8 Å / 減衰半径 : 0.8 Å / VDWプローブ半径 : 1.4 Å / 溶媒モデル : BABINET MODEL WITH MASK原子変位パラメータ Biso mean : 17.225 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- -0.06 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0.05 Å2 0 Å2 3- - - 0.01 Å2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.8→21.22 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 9523 0 0 694 10217
拘束条件 大きな表を表示 (5 x 20) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target 数 X-RAY DIFFRACTION r_bond_refined_d0.012 0.022 9864 X-RAY DIFFRACTION r_bond_other_d0 0.02 8854 X-RAY DIFFRACTION r_angle_refined_deg1.244 1.95 13458 X-RAY DIFFRACTION r_angle_other_deg0.744 3 20779 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_1_deg8.048 3 1258 X-RAY DIFFRACTION r_dihedral_angle_2_deg20.394 15 1836 X-RAY DIFFRACTION r_chiral_restr0.108 0.2 1452 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_refined0.013 0.02 10960 X-RAY DIFFRACTION r_gen_planes_other0.007 0.02 1762 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_refined0.224 0.3 2256 X-RAY DIFFRACTION r_nbd_other0.203 0.3 9377 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_refined0.154 0.5 1614 X-RAY DIFFRACTION r_xyhbond_nbd_other0.236 0.5 1 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_refined0.155 0.3 12 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_vdw_other0.191 0.3 90 X-RAY DIFFRACTION r_symmetry_hbond_refined0.202 0.5 21 X-RAY DIFFRACTION r_mcbond_it3.304 1.5 6115 X-RAY DIFFRACTION r_mcangle_it4.601 2 9983 X-RAY DIFFRACTION r_scbond_it6.804 3 3749 X-RAY DIFFRACTION r_scangle_it8.608 4.5 3475
LS精密化 シェル 解像度 : 1.8→1.846 Å / Total num. of bins used : 20 / Rfactor 反射数 Rfree 0.266 481 Rwork 0.225 8928
精密化 TLS 手法 : refined / Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
大きな表を表示 (25 x 6) 大きな表を隠す ID L11 (°2 )L12 (°2 )L13 (°2 )L22 (°2 )L23 (°2 )L33 (°2 )S11 (Å °)S12 (Å °)S13 (Å °)S21 (Å °)S22 (Å °)S23 (Å °)S31 (Å °)S32 (Å °)S33 (Å °)T11 (Å2 )T12 (Å2 )T13 (Å2 )T22 (Å2 )T23 (Å2 )T33 (Å2 )Origin x (Å)Origin y (Å)Origin z (Å)1 1.4132 1.4618 -0.0124 2.0179 0.0741 0.5504 -0.0206 0.1261 -0.1705 -0.0561 0.0522 -0.2055 0.0842 -0.0493 -0.0316 0.0749 -0.0064 0.0129 0.0758 -0.0194 0.1066 26.9788 53.1631 14.0334 2 1.6827 0.6552 -1.2253 0.8886 -0.3977 1.31 0.08 -0.1067 0.0467 0.0849 -0.057 -0.0682 -0.0786 0.0596 -0.023 0.0381 -0.0408 -0.031 0.0742 -0.0156 0.103 37.0688 80.2133 26.7964 3 0.588 0.036 -0.1019 1.6628 1.2383 1.6465 0.0606 -0.089 -0.0064 0.1983 -0.1096 0.1073 0.0876 -0.1614 0.0489 0.112 -0.0688 0.0172 0.1382 0.0163 0.0592 13.307 64.3749 40.2023 4 1.3596 0.057 0.7079 0.8852 -0.1375 1.0418 -0.0017 0.0965 -0.1022 -0.0594 -0.0068 -0.1145 0.0392 0.0919 0.0085 0.0298 0.0207 0.0178 0.0555 -0.0199 0.0847 39.8099 106.3885 64.851 5 0.6819 0.2165 -0.0513 1.3253 1.0232 1.837 -0.0071 0.0438 -0.0017 -0.1516 -0.0805 0.1637 -0.0653 -0.2211 0.0876 0.0818 0.0387 -0.0467 0.1205 -0.001 0.0571 12.6726 118.3995 54.7057 6 1.8401 -1.3638 -0.3176 1.7569 0.223 0.3498 0.0082 -0.23 0.1087 0.154 0.0309 -0.0615 -0.0548 -0.0195 -0.0392 0.1088 -0.0273 -0.0187 0.0979 -0.0372 0.062 26.4672 130.2482 80.1376
精密化 TLSグループ ID Refine-ID Refine TLS-ID Auth asym-ID Label asym-ID Auth seq-ID Label seq-ID 1 X-RAY DIFFRACTION 1 AA1 - 203 1 - 203 2 X-RAY DIFFRACTION 2 BB1 - 203 1 - 203 3 X-RAY DIFFRACTION 3 CC1 - 203 1 - 203 4 X-RAY DIFFRACTION 4 XD1 - 203 1 - 203 5 X-RAY DIFFRACTION 5 YE1 - 203 1 - 203 6 X-RAY DIFFRACTION 6 ZF1 - 203 1 - 203
精密化 *PLUS
最高解像度 : 1.8 Å / 最低解像度 : 20 Å / % reflection Rfree : 5 % / Rfactor Rfree : 0.207 / Rfactor Rwork : 0.176 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION r_bond_d0.012 X-RAY DIFFRACTION r_angle_dX-RAY DIFFRACTION r_angle_deg1.24