ソフトウェア 名称 バージョン 分類 X-PLORモデル構築 X-PLOR3.851 精密化 X-GENデータ削減 XDSデータスケーリング X-PLOR位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 2.7→99 Å / Rfactor Rfree error : 0.005 / Data cutoff high absF : 10000000 / Data cutoff low absF : 0.001 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.256 2164 5.1 % RANDOM Rwork 0.189 - - - all 0.192 42414 - - obs 0.192 42414 95.9 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 23.2 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 0 Å2 0 Å2 0 Å2 2- - 0 Å2 0 Å2 3- - - 0 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.36 Å 0.26 Å Luzzati d res low - 6 Å Luzzati sigma a 0.36 Å 0.3 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2.7→99 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 9700 0 0 150 9850
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.01 X-RAY DIFFRACTION x_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION x_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d27.8 X-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d0.71 X-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_mcbond_it1.46 1.5 X-RAY DIFFRACTION x_mcangle_it2.39 2 X-RAY DIFFRACTION x_scbond_it2.36 2 X-RAY DIFFRACTION x_scangle_it3.61 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 2.7→2.87 Å / Rfactor Rfree error : 0.018 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.313 289 4.9 % Rwork 0.251 5594 - obs - - 80.6 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMTOPHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION 2 TOPH19.SOL
ソフトウェア *PLUS
名称 : X-PLOR(ONLINE) / バージョン : 3.851 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
最高解像度 : 2.7 Å / σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 5.1 % / Rfactor Rfree : 0.254 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
Biso mean : 23.2 Å2 拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.4 X-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_deg27.8 X-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_deg0.71 X-RAY DIFFRACTION x_mcbond_it1.46 1.5 X-RAY DIFFRACTION x_scbond_it2.36 2 X-RAY DIFFRACTION x_mcangle_it2.39 2 X-RAY DIFFRACTION x_scangle_it3.61 2.5
LS精密化 シェル *PLUS
最高解像度 : 2.7 Å / 最低解像度 : 2.8 Å / Rfactor Rfree : 0.313 / % reflection Rfree : 4.9 % / Rfactor Rwork : 0.251 / Rfactor obs : 0.251