ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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AMoRE | | 位相決定 | REFMAC | 5 | 精密化 | DENZO | | データ削減 | SCALEPACK | | データスケーリング |
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精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.28→50 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.932 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.886 / SU B: 9.319 / SU ML: 0.228 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.418 / ESU R Free: 0.279 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.27657 | 789 | 4.8 % | RANDOM |
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Rwork | 0.21356 | - | - | - |
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all | 0.21665 | 15607 | - | - |
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obs | 0.21665 | 15607 | 95.51 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 31.153 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | 2.3 Å2 | 0 Å2 | 1.13 Å2 |
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2- | - | 0.26 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | -1.97 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.28→50 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2702 | 0 | 64 | 94 | 2860 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_refined_d0.011 | 0.021 | 2822 | X-RAY DIFFRACTION | r_bond_other_d | | | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_refined_deg1.54 | 1.977 | 3826 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_other_deg | | | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_1_deg3.735 | 3 | 342 | X-RAY DIFFRACTION | r_dihedral_angle_3_deg16.595 | 15 | 504 | X-RAY DIFFRACTION | r_chiral_restr0.098 | 0.2 | 426 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_refined0.005 | 0.02 | 2104 | X-RAY DIFFRACTION | r_gen_planes_other | | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_refined0.253 | 0.3 | 1319 | X-RAY DIFFRACTION | r_nbd_other | | | X-RAY DIFFRACTION | r_nbtor_other | | | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_refined0.18 | 0.5 | 220 | X-RAY DIFFRACTION | r_xyhbond_nbd_other | | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_refined0.26 | 0.3 | 54 | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_vdw_other | | | X-RAY DIFFRACTION | r_symmetry_hbond_refined0.217 | 0.5 | 9 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcbond_it0.686 | 1.5 | 1710 | X-RAY DIFFRACTION | r_mcangle_it1.295 | 2 | 2750 | X-RAY DIFFRACTION | r_scbond_it1.933 | 3 | 1112 | X-RAY DIFFRACTION | r_scangle_it3.241 | 4.5 | 1076 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 2.284→2.343 Å / Total num. of bins used: 20 / | Rfactor | 反射数 |
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Rfree | 0.297 | 47 |
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Rwork | 0.248 | 1025 |
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精密化 | *PLUS Rfactor obs: 0.214 / Rfactor Rfree: 0.277 / Rfactor Rwork: 0.214 / 最高解像度: 2.3 Å |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | r_bond_d0.011 | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | r_angle_deg1.54 | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.297 / Rfactor Rwork: 0.248 |
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