ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CrystalClearデータ収集 CrystalClearデータ削減 MLPHARE位相決定 直接法モデル構築 CNS1.1 精密化 CrystalClear(MSC/RIGAKU)データスケーリング 直接法位相決定
精密化 構造決定の手法 : 単一同系置換・異常分散 / 解像度 : 1.9→30.42 Å / Rfactor Rfree error : 0.006 / Data cutoff high absF : 2178865.51 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.239 1647 10 % RANDOM Rwork 0.19 - - - all 0.1931 16454 - - obs 0.19 16454 99.6 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 53.34 Å2 / ksol : 0.329298 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 29.9 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 5.47 Å2 3.77 Å2 0 Å2 2- - 5.47 Å2 0 Å2 3- - - -10.95 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.28 Å 0.23 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.23 Å 0.25 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.9→30.42 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1182 0 13 130 1325
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.009 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.7 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d26.2 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.96 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.16 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.97 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it1.9 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it2.85 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.9→2.02 Å / Rfactor Rfree error : 0.021 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.342 262 9.8 % Rwork 0.319 2399 - obs - - 98.5 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 CARBOHYDRATE.PARAMCARBOHYDRATE.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 WATER_REP.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION 4 ION.PARAMWATER.TOP
精密化 *PLUS
最低解像度 : 30.4 Å / Rfactor obs : 0.19 / Rfactor Rwork : 0.19 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.7 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg26.2 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.96