ソフトウェア 名称 バージョン 分類 NB CNS0.5 精密化 Show SCALEPACKデータスケーリング AMoRE位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換開始モデル : pdb entry 1AOJ解像度 : 2→22 Å / Rfactor Rfree error : 0.009 / Occupancy max : 1 / Occupancy min : 1 / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : engh & huberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.235 713 10.9 % random Rwork 0.189 - - - all - 6799 - - obs - 6548 96.3 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : CNS bulk solvent model used / Bsol : 40.1813 Å2 / ksol : 0.342613 e/Å3 原子変位パラメータ Biso max : 58.2 Å2 / Biso mean : 25.6 Å2 / Biso min : 12.69 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.53 Å2 3.17 Å2 0 Å2 2- - 2.53 Å2 0 Å2 3- - - -5.06 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.27 Å 0.21 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.21 Å 0.17 Å Luzzati d res high - 2
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 2→22 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 963 0 0 92 1055
拘束条件 Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.016 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.9 X-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d26.1 X-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d1.01
LS精密化 シェル Refine-ID : X-RAY DIFFRACTION
解像度 (Å)Rfactor Rfree Num. reflection Rfree % reflection Rfree (%)Rfactor Rwork Num. reflection Rwork Rfactor Rfree error Num. reflection all Num. reflection obs % reflection obs (%)2-2.09 0.232 87 10.4 0.235 679 0.025 837 766 91.5 2.09-2.2 0.2 87 10 0.203 735 0.021 867 822 94.8 2.2-2.34 0.238 79 9.5 0.234 674 0.027 827 753 90.9 2.34-2.52 0.203 94 10.9 0.203 753 0.021 865 847 97.9 2.52-2.77 0.211 92 10.7 0.21 746 0.022 857 838 97.8 2.77-3.17 0.206 90 10.8 0.205 735 0.022 836 825 98.7 3.17-3.99 0.165 98 11.4 0.16 750 0.017 855 848 99.1 3.99-21.54 0.164 86 10.1 0.165 763 0.018 853 849 99.5
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 prot_rep.paramprotein.topX-RAY DIFFRACTION 2 water_rep.paramcarbohydrate.top
ソフトウェア *PLUS
名称 : CNS / バージョン : 0.5 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
最高解像度 : 2 Å / 最低解像度 : 22 Å / σ(F) : 0 / % reflection Rfree : 10.9 % / Rfactor obs : 0.189 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_bond_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.9 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg26.1 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg1.01
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor Rfree : 0.232 / % reflection Rfree : 10.4 % / Rfactor Rwork : 0.235