ENGINEERED MUTATION IN CHAIN A :T 292 G ENGINEERED MUTATION IN CHAIN A :A 297 T ENGINEERED MUTATION ...ENGINEERED MUTATION IN CHAIN A :T 292 G ENGINEERED MUTATION IN CHAIN A :A 297 T ENGINEERED MUTATION IN CHAIN A :L 400 P
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1
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試料調製
結晶
マシュー密度: 3 Å3/Da / 溶媒含有率: 60 %
結晶化
pH: 5 / 詳細: pH 5.00
結晶化
*PLUS
温度: 20 ℃ / pH: 8 / 手法: 蒸気拡散法, ハンギングドロップ法
溶液の組成
*PLUS
ID
濃度
一般名
Crystal-ID
Sol-ID
詳細
1
10mM
Tris-HCl
1
drop
pH8.0
2
5 %(w/v)
beta-octylglucoside
1
drop
3
18-20 %(w/v)
PEG6000
1
reservoir
4
20mM
ammoniumsulfate
1
reservoir
5
0.1M
MES-NaOH
1
reservoir
pH5.0
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データ収集
回折
平均測定温度: 100 K
放射光源
由来: 回転陽極 / タイプ: ENRAF-NONIUS FR571 / 波長: 1.5418
検出器
タイプ: MAR scanner 180 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2001年11月15日
放射
モノクロメーター: GRAPHITE / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.15→32.01 Å / Num. obs: 21632 / % possible obs: 98.9 % / Observed criterion σ(I): 3 / 冗長度: 6.6 % / Biso Wilson estimate: 27.1 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.095 / Net I/σ(I): 0.095
反射 シェル
解像度: 2.15→2.27 Å / 冗長度: 5.6 % / Rmerge(I) obs: 0.287 / Mean I/σ(I) obs: 0.287 / % possible all: 98.9
反射
*PLUS
最高解像度: 2.15 Å / 最低解像度: 32.94 Å / Num. obs: 21605 / Rmerge(I) obs: 0.095