ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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X-PLOR | 3.851 | 精密化 | ソフトウェア | AT SYNCHROTRONデータ削減 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 3→30 Å / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.251 | 573 | 10 % | RANDOM |
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Rwork | 0.227 | - | - | - |
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obs | 0.227 | 5739 | 98.2 % | - |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 3→30 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 850 | 0 | 0 | 850 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d0.01 | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_bond_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg1.24 | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_na | X-RAY DIFFRACTION | x_angle_deg_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d28.3 | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_na | X-RAY DIFFRACTION | x_improper_angle_d_prot | X-RAY DIFFRACTION | x_mcbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_mcangle_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scbond_it | X-RAY DIFFRACTION | x_scangle_it | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 3→3.14 Å / Total num. of bins used: 8 / | Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.54 | 84 | 10 % |
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Rwork | 0.48 | 588 | - |
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Xplor file | Serial no: 1 / Param file: DNA-RNA-MULTI-END.PARAM / Topol file: TOP_NDBX3.DNA |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: X-PLOR / バージョン: 3.851 / 分類: refinement |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_d | X-RAY DIFFRACTION | x_dihedral_angle_deg28.3 | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.54 / Rfactor Rwork: 0.48 |
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