ソフトウェア 名称 バージョン 分類 X-PLOR3.851 モデル構築 X-PLOR3.851 精密化 X-PLOR3.851 位相決定
精密化 解像度 : 1.95→24 Å / Data cutoff high absF : 1000000 / Data cutoff low absF : 0.001 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 2 詳細 : SHELX97 WAS USED INITIALLY WITH SAME CROSS-VALIDATION DATARfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.233 881 5 % RANDOM Rwork 0.199 - - - obs 0.199 17458 93.5 % -
原子変位パラメータ Biso mean : 27.2 Å2 精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.95→24 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 1365 0 0 155 1520
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION x_bond_d0.008 X-RAY DIFFRACTION x_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION x_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg1.426 X-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION x_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d26.01 X-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d1.358 X-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION x_mcbond_it2.9 1.5 X-RAY DIFFRACTION x_mcangle_it5.1 2 X-RAY DIFFRACTION x_scbond_it3.8 2 X-RAY DIFFRACTION x_scangle_it6.6 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.95→2.04 Å / Total num. of bins used : 8 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.309 97 5 % Rwork 0.288 1936 - obs - - 89.8 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file X-RAY DIFFRACTION 1 PARHCSDX.PROX-RAY DIFFRACTION 2 PARAM19.SOL
ソフトウェア *PLUS
バージョン : 3.851 / 分類 : refinement精密化 *PLUS
% reflection Rfree : 10 % / Rfactor Rfree : 0.234 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_dihedral_angle_deg26.02 X-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION x_improper_angle_deg1.358
LS精密化 シェル *PLUS
Rfactor obs : 0.288