| ソフトウェア | | 名称 | 分類 |
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| CNS | 精密化 | | SCALEPACK | データスケーリング | | CNS | 位相決定 |
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| 精密化 | 構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.6→36.52 Å / Rfactor Rfree error: 0.004 / Data cutoff high absF: 301526.59 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 2 / σ(I): 2 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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| Rfree | 0.265 | 3725 | 10 % | RANDOM |
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| Rwork | 0.191 | - | - | - |
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| obs | 0.191 | 37265 | 93.5 % | - |
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| all | - | 198246 | - | - |
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| 溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 43.62 Å2 / ksol: 0.333 e/Å3 |
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| 原子変位パラメータ | Biso mean: 46 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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| 1- | 8.12 Å2 | 0 Å2 | 0 Å2 |
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| 2- | - | -5.91 Å2 | 0 Å2 |
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| 3- | - | - | -2.21 Å2 |
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| Refine analyze | | Free | Obs |
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| Luzzati coordinate error | 0.41 Å | 0.28 Å |
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| Luzzati d res low | - | 5 Å |
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| Luzzati sigma a | 0.41 Å | 0.27 Å |
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| 精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 2.6→36.52 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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| 原子数 | 8365 | 0 | 153 | 268 | 8786 |
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| 拘束条件 | | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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| X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d| 0.009 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg| 1.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d| 22.9 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d| 1.06 | | | | |
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| LS精密化 シェル | 解像度: 2.6→2.76 Å / Rfactor Rfree error: 0.015 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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| Rfree | 0.351 | 581 | 10.7 % |
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| Rwork | 0.256 | 4850 | - |
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| obs | - | - | 83.2 % |
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| Xplor file | | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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| X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOP| X-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER_REP.PARAMPROTEIN.LINK| X-RAY DIFFRACTION | 3 | ADP_ANP.PARAMWATER.TOP| X-RAY DIFFRACTION | 4 | ION.PARAMADP_ANP.TOP| X-RAY DIFFRACTION | 5 | | ION.TOP | | | | | | | | |
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| ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 1 / 分類: refinement |
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| 精密化 | *PLUS σ(F): 2 / % reflection Rfree: 10 % |
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| 溶媒の処理 | *PLUS |
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| 原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 46 Å2 |
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| 拘束条件 | *PLUS | Refine-ID | タイプ | Dev ideal |
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| X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg| 1.8 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg| 22.9 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg| 1.06 | | | | | |
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| LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.351 / % reflection Rfree: 10.7 % / Rfactor Rwork: 0.256 |
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