プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9767 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.56→18.6 Å / Num. obs: 31081 / % possible obs: 97.9 % / 冗長度: 2.4 % / Rmerge(I) obs: 0.036 / Net I/av σ(I): 34.8 / Net I/σ(I): 22
反射 シェル
解像度: 1.56→1.62 Å / 冗長度: 1.9 % / Rmerge(I) obs: 0.169 / Mean I/σ(I) obs: 5.5 / % possible all: 89.2
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(1.10-2155-000)
精密化
HKL-2000
データ削減
HKL-2000
データスケーリング
PHENIX
位相決定
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: Burkholderia glumae ToxA with bound SAH and 1,6-didemethyltoxoflavin 解像度: 1.564→18.567 Å / SU ML: 0.14 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.97 / 位相誤差: 17.44 詳細: SURFACE RESIDUE CYS236 SHOWS RESIDUAL ELECTRON DENSITY NEAR THE SULFUR ATOM AND IS POSSIBLY PARTIALLY OXIDIZED.