モノクロメーター: i 111 CHANNEL / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.2 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.76→31.47 Å / Num. obs: 33795 / % possible obs: 88.7 %
反射 シェル
解像度: 1.76→1.86 Å / % possible all: 45.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
SHELX
モデル構築
SHELXL-97
精密化
MOSFLM
データ削減
CCP4
(SCALA)
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: AB INITIO / 解像度: 1.77→31.47 Å / Num. parameters: 11967 / Num. restraintsaints: 11225 / 交差検証法: FREE R / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: ENGH AND HUBER 詳細: ANISOTROPIC SCALING APPLIED BY THE METHOD OF PARKIN, MOEZZI & HOPE, J.APPL.CRYST.28(1995)53-56
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2773
1665
5.2 %
RANDOM
Rwork
0.211
-
-
-
all
0.2133
-
-
-
obs
0.211
31980
84.9 %
-
Refine analyze
Num. disordered residues: 0 / Occupancy sum hydrogen: 0 / Occupancy sum non hydrogen: 2987.5