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登録や検証、編集処理に使用されているOneDepシステムは、 X線自由電子レーザー(XFEL)と連続フェムト秒結晶構造解析(SFX)によって解析された構造に対して、メタデータの収集範囲を拡張しました。 登録者は、結晶搬送法の詳細、 集光光学系、パルスエネルギー、周波数、使用した結晶の数など、データ測定についての詳細を、 XFEL及びSFX実験に特化したPDBx/mmCIFカテゴリ内に、入力できるようになりました。

PDBアーカイブ中の既存のXFELエントリーについては、登録者に連絡をとり、情報を追加する予定です。

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作成日: 2018-10-03
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