タイプ: MAR scanner 300 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2012年7月28日
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.1 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.1→137 Å / Num. all: 108807 / Num. obs: 103356 / % possible obs: 94.7 %
反射 シェル
解像度: 1.1→1.14 Å / % possible all: 94
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-3000
データ収集
PHASER
位相決定
REFMAC
5.6.0117
精密化
HKL-3000
データ削減
HKL-3000
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.2→137 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.969 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.958 / SU B: 0.673 / SU ML: 0.031 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.043 / ESU R Free: 0.044 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.20212
4185
5 %
RANDOM
Rwork
0.18235
-
-
-
obs
0.18335
79630
94.01 %
-
all
-
108807
-
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: BABINET MODEL WITH MASK