タイプ: MAR scanner 345 mm plate / 検出器: IMAGE PLATE / 日付: 2009年2月9日 / 詳細: MIRRORS
放射
プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.54 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.9→47.818 Å / Num. obs: 48337 / % possible obs: 99.7 % / Observed criterion σ(I): -3 / Biso Wilson estimate: 29.59 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.094 / Rsym value: 0.112 / Net I/σ(I): 17.24
反射 シェル
解像度: 1.9→1.95 Å / Rmerge(I) obs: 0.845 / Mean I/σ(I) obs: 2.84 / % possible all: 98.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.5.0109
精密化
XSCALE
データスケーリング
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 1.9→19.81 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.961 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.943 / SU B: 2.703 / SU ML: 0.081 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / ESU R Free: 0.122 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS U VALUES
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.217
1023
2.1 %
RANDOM
Rwork
0.171
-
-
-
obs
0.172
48304
99.8 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.4 Å / 溶媒モデル: MASK