プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.954 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.4→50 Å / Num. obs: 77886 / % possible obs: 95.3 % / 冗長度: 3.1 % / Rmerge(I) obs: 0.091 / Rsym value: 0.091 / Net I/σ(I): 12.3
反射 シェル
解像度: 1.4→1.42 Å / 冗長度: 3.1 % / Rmerge(I) obs: 0.545 / Mean I/σ(I) obs: 2.3 / Rsym value: 0.545 / % possible all: 94.8
-
解析
ソフトウェア
名称
分類
MOSFLM
データ削減
SHELX
モデル構築
SHELXL-97
精密化
HKL-2000
データスケーリング
SHELX
位相決定
精密化
構造決定の手法: AB INITIO / 解像度: 1.4→50 Å / Num. parameters: 36595 / Num. restraintsaints: 33086 / 交差検証法: FREE R / σ(F): 0 / 立体化学のターゲット値: ENGH AND HUBER 詳細: ANISOTROPIC REFINEMENT REDUCED FREE R (NO CUTOFF) BY ?
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rwork
0.1184
-
-
-
all
0.1184
-
-
-
obs
-
73564
90.8 %
-
Rfree
-
-
-
RANDOM
Refine analyze
Num. disordered residues: 7 / Occupancy sum hydrogen: 2206.91 / Occupancy sum non hydrogen: 2964