SHEET THE SHEET STRUCTURE OF THIS MOLECULE IS BIFURCATED. IN ORDER TO REPRESENT THIS FEATURE IN ... SHEET THE SHEET STRUCTURE OF THIS MOLECULE IS BIFURCATED. IN ORDER TO REPRESENT THIS FEATURE IN THE SHEET RECORDS BELOW, TWO SHEETS ARE DEFINED.
L-LEUCINE (LEU): L-LEUCINE IS BOUND TO THE SUBSTRATE BINDING SITE OF THE A DOMAIN OF SRFA-C.
配列の詳細
PLEASE NOTE THAT THE GENBANK ENTRY CONTAINS THE SEQUENCE OF B. SUBTILIS STRAIN 168, WHEREAS THE ...PLEASE NOTE THAT THE GENBANK ENTRY CONTAINS THE SEQUENCE OF B. SUBTILIS STRAIN 168, WHEREAS THE RECOMBINANT PROTEIN' S SOURCE IS B. SUBTILIS STRAIN ATCC 21332. THEREFORE THERE ARE THE FOLLOWING AMINO ACID EXCHANGES COMPARED TO THE AFOREMENTIONED GENBANK ENTRY. P26A, T33S, L235P. RESIDUES 1010-1014, VPHQQ, ARE REPLACED BY ASRIKK DUE TO A FRAME SHIFT. THE PROTEIN CONTAINS A S1003A POINT MUTATION AND 29 AMINO ACIDS THAT ARE DERIVED FROM THE VECTOR'S MULTIPLE CLONING SITE, C-MYC EPITOPE SEQUENCE, A LINKER AND A HEXA- HISTIDINE TAG.
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実験情報
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実験
実験
手法: X線回折 / 使用した結晶の数: 1
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試料調製
結晶
マシュー密度: 2.87 Å3/Da / 溶媒含有率: 56.76 % / 解説: NONE
結晶化
pH: 7.5 詳細: 0.1 M MGCL2, 0.05 M HEPES (PH 7.5), 15 % (W/V) PEG 2000
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データ収集
回折
ID
平均測定温度 (K)
Crystal-ID
1
100
1
2
1
放射光源
由来
サイト
ビームライン
ID
波長
波長 (Å)
シンクロトロン
ESRF
ID14-2
1
0.933
シンクロトロン
SLS
X06SA
2
0.9794, 0.9792, 0.9717
検出器
タイプ
ID
検出器
日付
ADSC CCD
1
CCD
2007年7月14日
2
放射
ID
プロトコル
単色(M)・ラウエ(L)
散乱光タイプ
Wavelength-ID
1
MAD
M
x-ray
1
2
MAD
M
x-ray
1
放射波長
ID
波長 (Å)
相対比
1
0.933
1
2
0.9794
1
3
0.9792
1
4
0.9717
1
反射
解像度: 2.6→82.5 Å / Num. obs: 45564 / % possible obs: 93 % / Observed criterion σ(I): -3 / 冗長度: 2.2 % / Biso Wilson estimate: 79.2 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.04 / Net I/σ(I): 12.9
反射 シェル
解像度: 2.6→2.67 Å / Rmerge(I) obs: 0.48 / Mean I/σ(I) obs: 2 / % possible all: 68
解像度: 2.6→82.5 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.949 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.921 / SU B: 28.59 / SU ML: 0.284 / TLS residual ADP flag: LIKELY RESIDUAL / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.907 / ESU R Free: 0.349 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS. RESIDUES 1156-1160, 1175-1181 AND 1202-1206 ARE DISORDERED AND MISSING IN THE SRFA-C STRUCTURE.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.272
1040
2.3 %
RANDOM
Rwork
0.213
-
-
-
obs
0.215
44479
93.1 %
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溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK