ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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d*TREK | 9.4SSIデータスケーリング | PHENIX | 1.8.3_1479精密化 | PDB_EXTRACT | 3.24 | データ抽出 | | |
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精密化 | 解像度: 2.4→42.8 Å / SU ML: 0.32 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.38 / 位相誤差: 24.44
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2632 | 495 | 9.81 % |
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Rwork | 0.2125 | - | - |
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obs | 0.2171 | 5047 | 99.61 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å |
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原子変位パラメータ | Biso max: 241.24 Å2 / Biso mean: 41.16 Å2 / Biso min: 14.91 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: final / 解像度: 2.4→42.8 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 893 | 31 | 87 | 1011 |
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Biso mean | - | - | 26.81 | 38.59 | - |
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残基数 | - | - | - | - | 42 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.007 | 1027 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.008 | 1593 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.097 | 220 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.02 | 42 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d11.549 | 496 | | | | | |
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LS精密化 シェル | Refine-ID: X-RAY DIFFRACTION / Rfactor Rfree error: 0 / Total num. of bins used: 4 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Num. reflection all | % reflection obs (%) |
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2.4001-2.6416 | 0.3421 | 125 | 0.2922 | 1133 | 1258 | 100 | 2.6416-3.0237 | 0.323 | 132 | 0.2737 | 1108 | 1240 | 100 | 3.0237-3.8092 | 0.2544 | 125 | 0.1903 | 1136 | 1261 | 100 | 3.8092-42.7603 | 0.2173 | 113 | 0.1881 | 1175 | 1288 | 99 |
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