プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.2782 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.45→69.85 Å / Num. obs: 60090 / % possible obs: 96.1 % / 冗長度: 9 % / Biso Wilson estimate: 9.8 Å2 / Rpim(I) all: 0.023 / Rsym value: 0.068 / Net I/σ(I): 21.3
反射 シェル
解像度: 1.45→1.53 Å / 冗長度: 6.5 % / Mean I/σ(I) obs: 5 / Num. unique obs: 8728 / Rpim(I) all: 0.206 / Rsym value: 0.538 / % possible all: 96.1
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.8.0158
精密化
XDS
データ削減
Aimless
データスケーリング
SHELXCD
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.45→69.85 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.976 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.968 / SU B: 1.814 / SU ML: 0.032 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.067 / ESU R Free: 0.057 / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN USED IF PRESENT IN THE INPUT