モノクロメーター: Si(111) / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.873 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.61→100 Å / Num. obs: 16949 / % possible obs: 99.7 % / 冗長度: 6.8 % / Biso Wilson estimate: 75.29 Å2 / Rsym value: 0.105 / Net I/σ(I): 12.2
反射 シェル
解像度: 2.61→2.7 Å / 冗長度: 6.48 % / Mean I/σ(I) obs: 1.79 / Num. unique obs: 10538 / CC1/2: 0.672 / Rsym value: 0.89 / % possible all: 100
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.10.2
精密化
XDS
(VERSIONJanuary10, 2014
データ削減
XSCALE
(VERSIONJanuary10, 2014
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
構造決定の手法: 分子置換 開始モデル: partially built MAD model 解像度: 2.61→24.91 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.9403 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.907 / SU R Cruickshank DPI: 0.422 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / SU R Blow DPI: 0.399 / SU Rfree Blow DPI: 0.266 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.274