プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.918409 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.198→44.039 Å / Num. obs: 6591 / % possible obs: 99.65 % / 冗長度: 12.7 % / Biso Wilson estimate: 50.21 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.046 / Net I/σ(I): 33.69
反射 シェル
解像度: 2.198→2.276 Å / 冗長度: 13.3 % / Rmerge(I) obs: 0.887 / Mean I/σ(I) obs: 3.3 / Num. unique obs: 616 / % possible all: 99.52
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解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
BUSTER
2.10.3
精密化
XDS
データ削減
XDS
データスケーリング
Arcimboldo
位相決定
精密化
構造決定の手法: AB INITIO PHASING / 解像度: 2.2→38.14 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.93 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.927 / SU R Cruickshank DPI: 0.307 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / SU R Blow DPI: 0.349 / SU Rfree Blow DPI: 0.221 / SU Rfree Cruickshank DPI: 0.212