ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | (dev_2481: ???)精密化 | xia2 | | データ削減 | Aimless | | データスケーリング | PHENIX | | 位相決定 | |
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精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 1.5→32.583 Å / SU ML: 0.2 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.33 / 位相誤差: 28.76
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.2273 | 944 | 5.02 % |
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Rwork | 0.2199 | - | - |
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obs | 0.2205 | 10520 | 99.57 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.5→32.583 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 0 | 436 | 3 | 52 | 491 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.023 | 490 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d4.259 | 769 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d10.429 | 196 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.062 | 94 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.008 | 20 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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1.5002-1.5793 | 0.3472 | 158 | 0.325 | 2549 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.5793-1.6782 | 0.3143 | 121 | 0.2765 | 2528 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 1.6782-1.8078 | 0.2452 | 120 | 0.2467 | 2597 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.8078-1.9897 | 0.3248 | 131 | 0.2668 | 2538 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.9897-2.2775 | 0.2839 | 137 | 0.2533 | 2562 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.2775-2.8692 | 0.3094 | 124 | 0.2521 | 2583 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.8692-32.5902 | 0.1783 | 153 | 0.1851 | 2501 | X-RAY DIFFRACTION | 99 |
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