ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
---|
DENZO | | データ収集 | HKL-2000 | | データスケーリング | PHASES | | 位相決定 | RESOLVE | 2.15 | モデル構築 | PHENIX | dev_1819精密化 | PDB_EXTRACT | 3.15 | データ抽出 | |
|
---|
精密化 | 構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2→24.682 Å / SU ML: 0.23 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 0.93 / 位相誤差: 23.23 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
---|
Rfree | 0.2332 | 833 | 5 % | Random selection |
---|
Rwork | 0.1853 | 15832 | - | - |
---|
obs | 0.1877 | 16665 | 98.82 % | - |
---|
|
---|
溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL |
---|
原子変位パラメータ | Biso max: 91.9 Å2 / Biso mean: 28.1482 Å2 / Biso min: 7.66 Å2 |
---|
精密化ステップ | サイクル: final / 解像度: 2→24.682 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
---|
原子数 | 1798 | 0 | 0 | 171 | 1969 |
---|
Biso mean | - | - | - | 36.06 | - |
---|
残基数 | - | - | - | - | 233 |
---|
|
---|
拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
---|
X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.004 | 1818 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d0.728 | 2456 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.025 | 296 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.004 | 320 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d14.619 | 678 | | | | | |
|
---|
LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
---|
1.9953-2.1203 | 0.2924 | 131 | 0.2163 | 2496 | X-RAY DIFFRACTION | 95 | 2.1203-2.2839 | 0.2722 | 137 | 0.2101 | 2593 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 2.2839-2.5135 | 0.2612 | 138 | 0.2148 | 2628 | X-RAY DIFFRACTION | 99 | 2.5135-2.8767 | 0.2446 | 140 | 0.2091 | 2657 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.8767-3.6226 | 0.2433 | 141 | 0.1803 | 2676 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.6226-10 | 0.182 | 146 | 0.1531 | 2782 | X-RAY DIFFRACTION | 100 |
|
---|
精密化 TLS | 手法: refined / Origin x: 13.5412 Å / Origin y: 42.524 Å / Origin z: 26.3433 Å
| 11 | 12 | 13 | 21 | 22 | 23 | 31 | 32 | 33 |
---|
T | 0.1054 Å2 | 0.003 Å2 | 0.0213 Å2 | - | 0.0598 Å2 | -0.0103 Å2 | - | - | 0.1435 Å2 |
---|
L | 2.4095 °2 | 0.382 °2 | 0.3612 °2 | - | 2.4567 °2 | 0.1667 °2 | - | - | 1.3259 °2 |
---|
S | -0.0043 Å ° | 0.0446 Å ° | -0.0574 Å ° | -0.2268 Å ° | -0.0448 Å ° | -0.2214 Å ° | -0.0313 Å ° | -0.0526 Å ° | 0.0386 Å ° |
---|
|
---|
精密化 TLSグループ | ID | Refine-ID | Refine TLS-ID | Selection details | Auth asym-ID | Auth seq-ID |
---|
1 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allA2 - 118 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allB4 - 119 | 3 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allA201 - 298 | 4 | X-RAY DIFFRACTION | 1 | allB201 - 273 | | | | | | | | |
|
---|