ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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PHENIX | 1.7.3_928精密化 | iMOSFLM | | データ削減 | |
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精密化 | 解像度: 1.4→27.905 Å / SU ML: 0.05 / 交差検証法: FREE R-VALUE / σ(F): 1.49 / 位相誤差: 10.81 / 立体化学のターゲット値: ML
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.1536 | 2000 | 5.79 % |
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Rwork | 0.1242 | - | - |
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obs | 0.1259 | 34540 | 98.95 % |
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溶媒の処理 | 減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 60 Å2 / ksol: 0.4 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | | Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -0.3709 Å2 | -0 Å2 | 0 Å2 |
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2- | - | -0.3828 Å2 | -0 Å2 |
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3- | - | - | 0.8465 Å2 |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.4→27.905 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 1351 | 0 | 11 | 249 | 1611 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | 数 |
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X-RAY DIFFRACTION | f_bond_d0.009 | 1423 | X-RAY DIFFRACTION | f_angle_d1.229 | 1936 | X-RAY DIFFRACTION | f_dihedral_angle_d12.133 | 517 | X-RAY DIFFRACTION | f_chiral_restr0.07 | 215 | X-RAY DIFFRACTION | f_plane_restr0.006 | 254 | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度 (Å) | Rfactor Rfree | Num. reflection Rfree | Rfactor Rwork | Num. reflection Rwork | Refine-ID | % reflection obs (%) |
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1.4-1.435 | 0.1351 | 141 | 0.0945 | 2299 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.435-1.4738 | 0.1286 | 142 | 0.0976 | 2305 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.4738-1.5172 | 0.1736 | 142 | 0.0923 | 2309 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.5172-1.5661 | 0.1235 | 143 | 0.0905 | 2330 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.5661-1.6221 | 0.1252 | 141 | 0.0852 | 2292 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.6221-1.687 | 0.1306 | 143 | 0.0892 | 2341 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.687-1.7638 | 0.1357 | 144 | 0.0936 | 2334 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.7638-1.8568 | 0.1407 | 144 | 0.0986 | 2343 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.8568-1.9731 | 0.1313 | 143 | 0.1021 | 2327 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 1.9731-2.1254 | 0.1406 | 145 | 0.1067 | 2350 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.1254-2.3392 | 0.1323 | 145 | 0.1072 | 2356 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.3392-2.6774 | 0.1566 | 146 | 0.1342 | 2390 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 2.6774-3.3723 | 0.1577 | 147 | 0.1493 | 2391 | X-RAY DIFFRACTION | 100 | 3.3723-27.9107 | 0.2159 | 134 | 0.1915 | 2173 | X-RAY DIFFRACTION | 86 |
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