モノクロメーター: double crystal / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9788 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.1→50 Å / Num. obs: 16668 / % possible obs: 99.8 % / 冗長度: 3.8 % / Biso Wilson estimate: 24.69 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.115 / Χ2: 1.21 / Net I/av σ(I): 11.741 / Net I/σ(I): 8.7 / Num. measured all: 64051
反射 シェル
Diffraction-ID: 1 / Rejects: _
解像度 (Å)
冗長度 (%)
Rmerge(I) obs
Mean I/σ(I) obs
Num. unique all
Χ2
% possible all
2.1-2.18
3.9
0.423
3
1634
1.023
99.9
2.18-2.26
3.9
0.357
1635
1.024
99.8
2.26-2.37
3.9
0.295
1641
1.107
99.8
2.37-2.49
3.9
0.256
1648
1.14
99.9
2.49-2.65
3.9
0.206
1646
1.254
99.8
2.65-2.85
3.9
0.165
1648
1.32
99.9
2.85-3.14
3.9
0.127
1661
1.254
100
3.14-3.59
3.8
0.093
1673
1.184
99.9
3.59-4.52
3.8
0.084
1699
1.106
99.9
4.52-50
3.6
0.062
1783
1.703
99.5
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
HKL-2000
データスケーリング
PHENIX
精密化
PDB_EXTRACT
3.15
データ抽出
HKL-2000
データ削減
PHENIX
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単波長異常分散 / 解像度: 2.102→32.637 Å / FOM work R set: 0.8641 / SU ML: 0.22 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.35 / 位相誤差: 19.97 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: SF FILE CONTAINS FRIEDEL PAIRS UNDER I/F_MINUS AND I/F_PLUS COLUMNS.
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.2034
816
4.91 %
Random selection
Rwork
0.1613
15801
-
-
obs
0.1633
16617
99.81 %
-
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL