プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.8726 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.35→50 Å / Num. obs: 7333 / % possible obs: 99.9 % / Observed criterion σ(I): 1.49 / 冗長度: 11.4 % / Biso Wilson estimate: 41.62 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.23 / Net I/σ(I): 9.66
-
解析
ソフトウェア
名称: PHENIX / バージョン: (PHENIX.REFINE) / 分類: 精密化
精密化
構造決定の手法: 分子置換 / 解像度: 2.35→46.038 Å / SU ML: 0.31 / σ(F): 2.36 / 位相誤差: 30.22 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: THE OCCUPANCY OF SIDE CHAIN ATOMS, FOR WHICH ELECTRON DENSITY WAS POOR, IS SET TO 0.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2338
368
5 %
Rwork
0.1858
-
-
obs
0.1882
7330
99.82 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL