プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.95 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.8→50 Å / Num. obs: 33448 / % possible obs: 97.7 % / 冗長度: 9.3 % / Net I/σ(I): 8.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(phenix.refine: dev_1839)
精密化
HKL-2000
データスケーリング
PHASER
位相決定
精密化
解像度: 1.8→33.48 Å / SU ML: 0.27 / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 1.36 / 位相誤差: 24.92 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: the entry contains Friedel pairs in F_Plus/Minus columns
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.2643
1620
4.86 %
Rwork
0.2123
-
-
obs
0.2147
31816
98.31 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.9 Å / VDWプローブ半径: 1.11 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL